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數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀

簡要描述:數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀
測量范圍

電阻率:10-2~102Ω-cm;

方塊電阻:10-1~103Ω/□;

電阻:10-3~9999Ω

產(chǎn)品型號: DL10-1934B

所屬分類:測溫儀表

更新時間:2024-12-07

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀

型號:DL10-1934B

數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀

測量范圍 

電阻率:10-2102Ω-cm;

方塊電阻:10-1103Ω/□;

電阻:10-39999Ω 

可測半導體材料尺寸 

直徑:Φ15100mm; 

長(或高)度: ≤400mm 

外形尺寸 

主機 170mmD)×130 mmW)×50mmH) 

電源                   

功 耗:<1W; 

電源適配器:

輸入:220V±10% 50Hz; 

輸出:DC5V±10% 



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